再超越：探索新型半導體芯片的無(wú)限潛力

芯片作為工業(yè)的"糧食" ，一直是全球高科技產(chǎn)業(yè)的重要支柱。在科學(xué)界和產(chǎn)業(yè)界，大家一直在不斷嘗試利用各種二維材料，開(kāi)發(fā)出兼具高性能和低功耗的新一代芯片。

二維(2D)層狀半導體，由于具備出色的柵極場(chǎng)穿透的原子厚度，可作為未來(lái)晶體管的通道材料。根據客戶(hù)要求，我們需要在開(kāi)發(fā)新材料時(shí)，不斷地對樣品進(jìn)行參數測定，使之達到理論設計值。測試參數包含介電常數、C-V曲線(xiàn)、I-V曲線(xiàn)、靜態(tài)電容。 

本次我們將通過(guò)TH2838A阻抗分析儀、TH1992B精密源/測量電源定制上位機軟件作為部分實(shí)驗設備用于參數測定。

解決方案

材料介電常數分析

介電常數描述的是材料與電場(chǎng)之間的相互作用，TH2838A系列阻抗分析儀為材料研究和開(kāi)發(fā)提供了強有力的工具，配合專(zhuān)用材料測試夾具TH26077以及上位機軟件可方便、精確的測量材料在不同頻率下的介電常數。

I-V曲線(xiàn)測試

對功率半導體器件進(jìn)行靜態(tài)測試，主要是為了解功率器件的性能。TH199X系列精密源/測量單元，可輸出高達±210V直流電壓、±3A直流電流以及±10.5A脈沖電流、最小10fA/100nV的電源和測量分辨率，并內置了二極管、三極管、MOS管以及IGBT等器件的I/V曲線(xiàn)掃描功能，無(wú)需連接上位機即可完成IV功能測試。

C-V曲線(xiàn)測試

C-V特性曲線(xiàn)是用來(lái)測量半導體材料和器件的一種方法，TH2838A+TH1992B的組合方案，也可提供高精度的C-V曲線(xiàn)分析。

在瞬息萬(wàn)變的時(shí)代中，我們深知一個(gè)事實(shí)：優(yōu)秀的解決方案能有效地解決您的問(wèn)題。作為專(zhuān)業(yè)的電子測量測試綜合解決方案提供商，我們同惠將繼續根據大家的不同需求，確定有針對性且合理的技術(shù)解決方案。