同惠/Tonghui并行多通道耐壓測試儀TH9010

同惠/Tonghui并行多通道耐壓測試儀TH9010

同惠/Tonghui并行多通道耐壓測試儀TH9010

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  功能特點(diǎn)
  

  A. 同步測試功能
  

  
  

  TH9010系列8個(gè)獨立通道支持同步并行輸出，從而將測試效率提高8倍。搭配專(zhuān)用掃描擴展器TH90101,可將一個(gè)通道擴展為4個(gè)通道，最多疊加4臺擴展器，即可將該儀器擴展為8*4*4=128個(gè)通道。

  
  

  

  
  

  
  

  B. 觸電保護功能

  當操作人員與高壓輸出端接觸時(shí)，儀器會(huì )監測流經(jīng)人體的電流是否過(guò)高，若判定為觸電，儀器會(huì )立即切斷輸出，保障用戶(hù)的安全。

  
  

  C. 開(kāi)短路偵測功能（OSC）

  在耐壓測試過(guò)程中由于被測件與測試線(xiàn)接觸不良、測試線(xiàn)損壞等，會(huì )發(fā)生開(kāi)路現象，導致不良品誤判為良品；被測件損壞或者被測端間距太小導致測試線(xiàn)短路現象。

  
  

  
  

  使用OCS功能，TH9520/A可預先偵知測試端開(kāi)短路情況，減少產(chǎn)線(xiàn)接觸不良的問(wèn)題發(fā)生,保護治具設備，節省測試成本。

  
  

  
  

  D. 接觸檢查功能

  對于產(chǎn)線(xiàn)測試時(shí)的接觸檢查問(wèn)題，除OSC功能外，在配有擴展器的情況下還具有引腳檢測功能（圖D），確保被測件與測試線(xiàn)連接可靠，提升測試可靠度與效率。

  

  
  

  B.  電弧偵測功能（ARC）

  耐壓不良是指在耐壓測試中有電氣閃絡(luò )或絕緣破壞發(fā)生?，F在耐壓絕緣測試已經(jīng)成為各類(lèi)電器設備和絕緣材料安全測試的標準配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能完產(chǎn)品安全問(wèn)題,另一類(lèi)現象,電弧放電ARC在耐壓測試中越來(lái)越得到重視,放電與絕緣能力之間具有的相關(guān)性，所以ARC偵測是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。

  以下兩種情況會(huì )出現電弧放電現象：

  a)  當材料承受較高電壓，電場(chǎng)強度大于氣體的電離能時(shí)，會(huì )讓材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)電離現象，此時(shí)會(huì )在材料表面形成打火并對材料形成溫升現象。長(cháng)期的打火和溫升可能會(huì )造成材料的質(zhì)變，進(jìn)而導致絕緣劣化，使得電壓耐受程度下降，最終發(fā)生絕緣失效。

  b)  被測件檢測點(diǎn)間距過(guò)小時(shí),在被測件兩端施加較高電壓，檢測點(diǎn)兩端空間里的空氣會(huì )被電離，形成打火現象，也就是拉弧現象。拉弧現象產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電，在測試過(guò)程中產(chǎn)生了一個(gè)高頻電流信號如圖D，電弧偵測（ARC）功能是用高頻電量量測的方式偵測，判斷出材料絕緣性能是否有不良。

  

• 應用

• ■ 自動(dòng)化測試系統

  ■ 家用電器

  ■ 變壓器、電機

  ■ 電氣設備

  ■ 照明行業(yè)

  ■ 新能源汽車(chē)

  ■ 電子元器件

  ■ 醫療設備

• 技術(shù)參數

• 型   號		TH9010	TH9010A
  單元數		8路獨立單元	4路獨立單元
  耐壓測試
  輸出電壓 電流測試范圍	AC	0.10kV - 5.00kV         ±2%
  	DC	0.10kV - 6.00kV         ±2%
  	AC	0mA - 10.00mA          ±（2%讀數+5個(gè)字）
  	DC	0μA - 5.00mA            ±（2%讀數+5個(gè)字）
  	快速放電功能	測試結束后自動(dòng)放電（DCW）
  絕緣電阻測試
  輸出電壓		0.10kV - 1.00kV      ±2%
  電阻測試范圍		0.1MΩ - 10.0GΩ
  電阻測試精度		0.10MΩ - 999MΩ  量程±10%+2個(gè)字 1.00GΩ - 10.0GΩ 量程±20%+2個(gè)字
  放電功能		測試結束后自動(dòng)放電
  電弧偵測
  測量范圍	對應電流	1mA - 20mA
  一般參數
  電壓上升時(shí)間		0.1s - 999.9s
  測試時(shí)間設定(AC/DC)		0.2s - 999.9s
  電壓下降時(shí)間		0.1s - 999.9s
  等待時(shí)間(IR)		0.2s - 999.9s
  時(shí)間精度		±(1%+0.1s)
  存儲器		可存儲100個(gè)測試文件，每個(gè)文件最多20個(gè)測試步驟